主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备硬件由Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充包括驱动软件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台支持先进的半导体模型参数提取，包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。应用半导体器件：片上参数测试晶圆级可靠性封装器件的特性分析使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析高K栅电荷俘获易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度电阻式或电容式MEMS驱动特性分析光电器件：半导体激光二极管DC/CW特性分析收发模块DC/CW特性分析PIN和APD特性分析科技开发：碳纳米管特性分析材料研究