TCT2004TCT2003,TCT-2004 TCT-2003曲线图示仪晶体管图示仪半导体晶体管图示仪，图示仪TCT-2003晶体管图示仪TCT-2003峰值电源,模式:AC、全波整流、DCTCT-2003电压0～2kVTCT-2003垂直轴集电极电流2nA～2A(×1、×0.1)TCT-2003水平轴集电极电流50mV～200V(×1、0.1)TCT-2004晶体管图示仪是测试半导体静·动特性的高灵敏度多功能的曲线测试仪。标准装备数字存储功能，可显示静止波形。集电极最大可印加±2KV，电流灵敏度最大为100pA/DIV，可高精确度地测试各种半导体TCT-2004峰值电源,模式:AC、全波整流、DCTCT-2004电压0～2kVTCT-2004垂直轴集电极电流1μA～5A(×1、×0.1)TCT-2004水平轴集电极电流50mV～500V(×1、0.1)SCT-2FR晶体管图示仪SCT-2FR是可直接观看各种二极管、硅双向开关管(SSS)的特性曲线的图试仪。电流轴和电压轴的放大采用高性能回路，可高精度地观察急剧变化特性的半导体SCT-2FR峰值电源,模式:AC、半波整流SCT-2FR电压0～2kVSCT-2FR垂直轴集电极电流0.1μA～2A/DIVSCT-2FR水平轴集电极电流0.1V～200V/DIVSCT-5FR晶体管图示仪SCT-5FR峰值电源,模式:AC、半波整流SCT-5FR电压0～5kVSCT-5FR垂直轴集电极电流1μA～2A/DIV水平轴集电极电流0.1V～500V/DIVSCT-10F晶体管图示仪SCT-30B半导体特性曲线仪SCT-15G特性曲线图示仪半波整流重复扫描1.5.10/SEC连续·单次标准装备数字存储功能，可右管面确认各种参数的测试条件比较和显示基准波形与各被测的波形内藏可保存16个品种数据的存储器、FDD TCT2004观察晶体管、FET、可控硅、UJT、二极管、IC等各种半导体静特性曲线的图示仪，kdk将这些图示仪分为TCT和SCT系列。与切换印加电压所测得各点特性值的常数测试仪、特性测试仪相比，图示仪可一目了然地观测众多的特性，从特性曲线上简单地了解任意一点的特性值。图示仪可观擦由扫描电源印加电压，与连续产生变化的电流之间的特性曲线，因此可简单地测试电压电流呈非直线变化的半导体和其他电子部品的电压电流特性。TCT系列采用阶梯波发生器使参数发生变化，由特性曲线群可容易地了解器件的普遍特性。晶体管、FET的测试需要将接地点作为基准点印加阶梯波，器件的一端为接地，在扫描电源的返回侧插入检出电流的电阻(TCT-2003除外)各机型基本上由扫描电源、电压检出·放大器、串联电阻器、视像管组成