半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。集电极扫描信号输出电压范围及电流容量0～5V10A（XJ4810A）0～10V5A0～50V1A0～100V0.5A0～500V0.1A  基极阶梯信号阶梯电流0.2μA/级～50mA/级，分17档(XJ4810) 0.2μA/级～100mA/级，分18档(XJ4810A)阶梯电压0.05V级～1V/级，分5档(XJ4810) 0.1V级～2V/级，分5档(XJ4810A)Y轴偏转系数集电极电流10μA/div～0.5A/div，分15档(XJ4810) 10μA/div～1A/div，分16档(XJ4810A)二极管电流0.2μA/div～5μA/div，分5档倍率×0.1X轴偏转系数集电极电压0.05V/div～50V/div，分10档 0.05V/div～1V/div，分5档二族显示二簇曲线左右分列显示并可左右位移一般性能适应电源AC220V±10% 50Hz±4%视在功率约50VA（非测试状态） 约80VA(最大功率)外形尺寸320B×220H×400Dmm