Morphologi G3 - 用于颗粒大小和形状表征您期待得到以下结果吗：从样本离差到数据分析实现完全的自动化，并拥有灵活的解决方案。更加详细地了解有关颗粒的信息以及它们在生产工艺各个环节所表现出来的特征。更好地了解从开发到生产各个阶段的颗粒材料。在一次测量中，以最少的人工介入，获取高质量的有统计意义的颗粒大小和形状信息。质量设计和 PAT 新工具。显微镜操作自动化，节省时间和劳动力。可用于验证其他颗粒大小测量技术的工具。Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统是满足您上述需求的新型分析工具。此系统将高质量图像和具有统计意义的颗粒形状、大小测量方法组合在一起。我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。功能强大且直观的数据分析工具，可确保您从测量数据中获得最丰富的结果。颗粒大小：Morphologi G3 使用不同的放大倍数确保对整个颗粒大小范围 (0.5µm – 3000µm) 的高分辨率，可使用圆当量直径参数精确测量颗粒大小。颗粒形状：可计算各种颗粒形状参数，例如延伸度、圆度和凸起度等。这些参数可识别和量化样本间的细微差别，而那些只能测量颗粒大小的技术则无法识别这些不同。颗粒数量和杂质颗粒检测：实际上，样本中的所有颗粒都可以被单独测量并记录，这使得图像分析系统能够出于某些目的（例如颗粒杂质检测）计算某类颗粒的数量。Morphologi G3 简介：完全集成的干粉分散剂：我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。统计意义：只需单击一下鼠标，便可分析成千上万的颗粒！消除用户偏差：标准操作程序 (SOP) 方法可客观地记录和控制所有仪器参数（例如，焦距、光线强度、放大倍数）。在一台仪器上开发的方法可通过单一电子文件进行全局传送。保存高质量图像：对每个单一颗粒图像都能进行观察和记录，从而可目视验证破裂颗粒、凝聚物、精细颗粒和杂质颗粒等的存在。精确、可重复和“可验证”：为确保数据的一致性，图像分析系统在每次颗粒分析前后，都要使用 NPL（National Physical Laboratory，英国国家物理研究所）的多段光栅可跟踪技术进行自动校准。此图像分析仪符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ（安装认证/操作认证）文档。 Morphologi G3 和 G3S 数据表Morphologi G3 专为满足实验室客户对于实验结果全局可比性、跟踪能力、法规遵从和效率等方面日益增长的需求而开发。在 Malvern 推出的 Morphologi G3 中，先进的图像分析功能使这些需求成为了简单易行的例行任务。稳定的可重复性软件驱动的 SOP 消除了不同用户的差异，使得全局性传输成为可能。所有测量参数都自动嵌入到结果文件中，并可进行详细的复查。按照同样的 SOP，可进行重复测量。测量范围宽可测量从 0.5µm 至 3000µm 的材料。样本类型广可测量乳化剂、悬浮液和干粉等。易于使用操作完全自动化，易于使用。专为消除不同用户的操作差异而设计。减少新用户培训需求，并可将熟练用户的部署最大化。法规遵从提供完全的验证文档，其中包括对于 21 CFR 第 11 部分的合规性文档用户友好的软件软件驱动的标准操作程序 (SOP) 消除了不同用户造成的差异。SOP 创建向导可帮助用户建立良好的测量方法。按一下按钮即可获得关于每个测量方面的在线帮助和建议。屏幕上的指示信息可引导用户执行测量过程。常规样本分析 SOP 随软件提供。自定义报告设计器可配置屏幕布局和打印输出，以适合不同用户的需要。 大小测量 大小范围从 0.5μm 至 3000μm（取决于材料属性和分散条件）形状测量为每个颗粒计算多个粒形参数，并根据各个参数生成分布。 参数包括:圆当量直径、长度、宽度、周长、面积、高宽比、圆度、凸起度、实积度、延伸度、亮度。 .光学配置       光学系统 Nikon CFI 60 明视场/暗视场系统放大倍数（照相机处） 1x*2.5X5X10X20X50X近似总放大倍数（在 17 英寸屏幕上） 49x123X247X494X987X2468X最小颗粒大小 (μm) 32136.53.51.750.5最大颗粒大小 (μm) 3000100042021010040数值孔径 0.0400.0750.150.300.400.55焦距深度（总）(μm) 343.7597.7824.446.113.441.82工作距离 (mm) 3.28.8018.0015.0013.009.80照相机系统       照相机类型 1/1.8” 全局快门逐行扫描 CCD连接协议类型 IEEE 1394a (Firewire?)像素数 2592 x 1944 (500 万像素)颗粒大小 2.7μm x 2.7 μm传感器规格 7.20mm x 5.40mm         样品分散单元(Morphologi G3S 用于干粉分析的集成样品分散单元。采用软件控制分散压力、喷射时间和沉淀时间。可通过标准操作程序自动运行，也可通过计算机屏幕上的对话框进行手动操作。需要一套洁净、干燥的送风系统，但本仪器没有此类系统  全自动显微镜系统硬件您期待得到以下结果吗？ 完全自动化的样本分散器 可重复的结果消除用户偏差更加安全地处理危险物质要可靠地测量干粉，必须严格控制分散条件。我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，由软件控制，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。通过压缩空气瞬时脉冲进行样本分散。精确控制分散压力、喷射时间和沉淀时间，确保对各种样本进行完全可重复的测量。测量是在封闭的样本承载装置中进行的，这使得对环境的暴露降到最低，从而确保能够进行安全的物质处理，尤其是在测量药物活性物质或有毒物质样本时。可以事先制备多个等分试样，在下次测量时立即使用。 Morphologi 图像分析软件只有与高级专用软件一起使用，才能充分发挥 Morphologi G3 的强大功能。只有搭配使用高质量、自动化、易于使用、切合所需的专用颗粒形态表征分析软件而非通用软件时，本系统才能发挥其全部价值。Morphologi G3 软件可实现以下标准功能：直观及用户友好标准操作程序 (Standard Operating Procedure, SOP)- 用于操作人员、图像分析系统和现场之间的重复操作。散布图– 轻松实现测量数据、分类和过滤的可视化。数据比较- 比较和归类数据，找出多次测量的不同点或相似点手动模式– 将图像分析系统用作手动显微镜，用于方法开发自定义报告- 满足所有实验室的需求颗粒视图– 对所有捕获的颗粒图像进行查看、排序、过滤和分类选定参数趋势分析– 绘制多个记录之间的趋势图结果重绘和统计绘图– 重绘并比较多个结果自动显微镜方法 - Morphologi 应用和案例研究Morphologi G3 可应用于所有行业领域。在生产流程的任意阶段 — 从早期的研究和开发，到过程分析、生产故障排除和根本原因分析，再到最终产品质量控制 — 本仪器均可将您对产品和流程的了解提升到前所未有的高度。许多行业要求具备精确表征颗粒材料的能力。有时颗粒的大小和形状以及产品的属性和行为之间的联系明确，为人所知。更多的情况则是这种联系尚不明确，其原因主要是迄今还没有能够识别样本之间细微区别的分析工具。下面是一些应用实例：实例 1：制药应用和 PAT 计划制药行业与许多其他制造行业有着显著区别。这些不同包括：高附加值产品产品开发周期长受到外部机构的严格监管高度重视生产流程中的质量保证和控制产品直接关系到生命安全正是由于这些原因，充分理解并严格控制生产流程，使之尽可能高效就显得至关重要。FDA 倡导的 PAT（Process Analytical Technologies，过程分析技术）计划为制药业提供了法规框架和文化动力，以改进对流程的理解、评估新的分析技术。此计划鼓励制药业识别出哪些参数对质量至关重要，以及哪项技术最适合于测量这些参数。药物的赋形和活化成分物理属性的不同可能导致最终配方的变化。即使颗粒的大小和形状只存在细微的差异，也会显著影响颗粒的产品性能测量，例如生物药效率、流动性、稳定性、混合和压片效率。这些差异可能由原材料或在后续加工步骤中造成。即使原材料的规格完全一致，也可能由于不同原材料供应商的不同批次而产生差异。由于之前未提供可靠的形状数据，许多原材料的规格未进行严格的定义，因此无法确保不同批次具有足够的相似性。结晶、干燥、研磨、混合、过滤等每个生产流程都会导致产品发生变化，因此必须对这些流程进行精密控制。传统的大小测量方法常常不足以控制生产流程的变量，以提高最终产品性能。Morphologi G3 仪器具备超高灵敏度和分辨率，用户使用它可识别、测量和监控对产品质量至关重要的流程变量。实例 2：对精细颗粒的灵敏度整体颗粒大小测量技术通常“以体积为基础”提供数据。也就是说每个颗粒的贡献与其体积成正比 － 大颗粒在分布中占支配地位，小颗粒的影响则被忽略不计，因为小颗粒的体积相对于大颗粒而言微不足道。图像分析“基于数量”提供数据。也就是说，每个颗粒对分布的贡献相同 － 极小颗粒与极大颗粒占有完全相同的权重。精细颗粒的存在不会产生重要的影响。如果确实如此，那么整体系统的体积响应会更快、更方便。然而，如以诊断和故障排除为目的，为完全理解生产流程，精细颗粒的存在就变得非常重要，图像分析中对精细颗粒的超高灵敏度就成为必须。实例 3：对粒形的灵敏度 某批次的药物赋形剂连续在生产流程的压片阶段失败。压片流程恰好是生产流程的最后一步，此时所有价值都已融入产品，在这个环节不过关必将造成高额损失。用户希望尽早，最好在原材料阶段就可识别失败的批次。传统显微方法或整体大小测量方法无法对四个批次进行区分。自动图像分析技术临危受命，开始对四个批次的平均凸起度进行评估。凸起度用于衡量颗粒的表面粗糙度。失败批次总是比其他三个通过批次具有较低的平均粗糙度。. 实例 4：杂质颗粒识别图像分析以数量为基础生成数据，对颗粒形状具有高灵敏度，因此是检测是否存在数量极少的微杂质颗粒的理想技术。使用单个参数或多个参数的组合，可检测并量化杂质颗粒。例如 － 平均亮度可用于识别不同于主要样本的较暗、高对比度的颗粒。  平均亮度分布表明两个节点 － “透明颗粒”节点包含所有主要样本颗粒，“较暗颗粒”点标识出较暗的杂质颗粒。究竟什么是颗粒大小和颗粒形状？描述 三维 颗粒往往是一项复杂的工作，没有想像得那么容易。除非颗粒是完美的球体，而现实世界中这种情况实属罕见，否则就需要用多种方法来描述颗粒的大小。图像分析系统捕获 三维 颗粒的二维图像，然后根据 二维 图像计算各种颗粒大小和颗粒形状参数。按照下表所示的方法计算大小和粒形参数，可识别和量化最细微的差别。参数示例值定义CE 直径 (µm)904.14与颗粒面积相同的圆的直径长度 (µm)1306.35将周边上任意两点间的直线投影到长轴（转动能最小的轴）上。这些投影中的最大长度即为对象的长度。将周边上任意两点间的直线投影到短轴上。这些投影中的最大长度即为对象的宽度。宽度 (µm)678.54颗粒中任意两个像素间的最大距离最大距离 (µm)1318.07颗粒的实际周长周长 (µm)3619.42转动能最小的轴的角度长轴105.52颗粒的实际面积（以平方微米为单位）面积 (µm2)371550.78颗粒中像素的数量面积（像素）215018与颗粒面积相等的圆的周长除以颗粒的实际周长圆度0.785= 2 x（ π 面积）的平方根/周长HS 圆度0.616高灵敏度圆度（圆度的平方）= 4 π面积/周长2凸起度0.919凸起周长除以颗粒的实际周长实积度0.905实际颗粒面积除以凸包面积高宽比0.519宽度除以长度延伸度0.4811 – 高宽比亮度平均值61.310颗粒中各个像素所有灰度值平均值亮度标准方差29.841颗粒中各个像素所有灰度值的标准方差质心 x 轴坐标值 (µm)6898271.5颗粒质心的 x 轴坐标质心 y 轴坐标值 (µm)1797186.3颗粒质心的 y 轴坐标