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详细信息
 类型:   0.6nm-6000nm  测量范围:   Zetasizer Nano ZS ((um))
 可测粒度范围:   纳米粒度仪 ((μm))   

仪器介绍                               2003年5月推出的Zetasizer Nano系列纳米粒度和Zeta电位分析仪是在2000年7月问世的Zetasizer HS系列和2001年9月问世的HPPS的基础上发展起来的,它不仅继承了原有仪器的鲜明特点(如测量范围宽,浓度应用范围广,高分辨Zeta电位,APD检测器等),而且还发展了许多其它功能,包括分子量测定,旋转半径,第二维里系数测定,SOP,和随时间及温度的趋势分析等。Zetasizer Nano ZS作为该系列中的顶级配置,与自动滴定系统相连后,还可自动进行粒度、Zeta电位和分子量分析,尚无其它厂家仪器可与之匹敌。全新 Zetasizer Nano系列可以为胶体和聚合物化学专家提供综合测量三项最重要参数的能力,即粒度、zeta电位和分子量。这些系统中内置了新技术,提供无比的灵敏度和多功能性。 -粒度: NIBS专利技术可以对0.6纳米至6微米的颗粒和分子进行测量。-Zeta电位: M3-PALS专利技术能够对水分散和非水分散体系中的zeta电位进行精确的测量。-分子量: 高灵敏度APD检测器和特殊设计的光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。Zetasizer Nano ZS是Malvern Zetasizer Nano系列中的佼佼者,能够测量所有三项参数,而且性能丝毫不减。Nano ZS、Z及ZS90都可以使用专利的折叠式可抛弃型毛细管样品池来测量zeta电位,避免样品之间的交叉污染。所有系统均可与MPT-2自动滴定仪连接使用,实现趋势测量和样品制备的自动化。 * 视样品而定2纳米-3微米2纳米-3微米------ZetasizerNano S90Zetasizer   Nano ZS90Zetasizer   Nano ZZetasizerNano S1000-2x107 DaNIBS专利0.6纳米-6微米1000-2x107 DaNIBS专利0.6纳米-6微米M3-PALS专利3纳米-10微米M3-PALS专利3纳米-10微米M3-PALS专利3纳米-10微米ZetasizerNano ZS分子量范围粒度范围Zeta电位测量技术参数1.粒度测定范围:0.6nm-6000nm2.浓度范围:0.1ppm-40%(W/v)3.分子量测定范围:1,000-10,000,000道尔顿4.高分辨Zeta电位分析:可分辨5mV的Zeta电位差别5.温度控制范围:2-90度主要特点1.具有最低的纳米粒度下限:可测量亚纳米区及高分子大小2.具有最宽的浓度应用范围:0.1ppm – 40% (w/v)。最少样品量仅0.75ml。3.独有的高分辨Zeta电位技术:可轻易发现污染物,并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品4.可对分子量进行测定,包括旋转半径和第二维里系数5.唯一具有标准操作规程(SOP)的纳米粒度分析仪器。可随时间及温度变化进行趋势分析;与自动滴定仪相连接后,可自动测定粒度、Zeta电位随pH、盐浓度和电导率变化的,自动测定分子量。
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