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  • 青岛胜方分析仪器有限公司
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详细信息
 类型:   1~3000微米  测量范围:   Rise-3002 ((um))
 可测粒度范围:   激光粒度仪 ((μm))  光信号稳定性:   国产 ((%/min))
 转速范围:   ±3%(国家标准物质) ((r/min))  测量准确度:   0 ((%))

Rise-3002 型颗粒图像分析仪由光学显微镜(放大倍数最大 1600 倍)、CCD 摄像机和图像采集卡组成,并需连接计算机和打印机使用。该系统将传统的显微测量方法与现代化的电子技术、图像处理技术相结合,使用专用摄像机将显微镜放大的颗粒图像 拍摄下来,通过图像采集卡将图像传输到电脑中, 计算机自动地对颗粒的形貌特征进行分析,能直观、准确的观察被测颗粒的形貌,并可打印出颗粒直观图形。  产品名称;Rise-3002型颗粒图像分析仪 测量范围:1~3000微米最大光学放大倍数:1600倍最大分辨率:0.1微米/像素准确性误差:< ±3%(国家标准物质)重复性偏差:< ±3%(国家标准物质)数据输出:周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、长短径比、中间径(D50)、有效粒径(D10)、限定粒径(D60)、D30、D97、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数
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