特点? 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。? 为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；? 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。基本技术参数:基座尺寸 (W x H): 750 x 600mm 或 1000 x 450mm基座材料: 花岗岩重量　主机: 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4)140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8)　控制器: 14kg　遥控箱: 0.9kg电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz能耗: 400W (主机)轮廓测量技术参数:X 轴　测量范围: 100mm 或 200mm　分辨率: 0.05μm　检测方法: 反射型线性编码器　驱动速度: 80mm/s、外加手动　测量速度: 0.02 - 5mm/s　移动方向: 向前／向后　直线度: 0.8μm / 100mm, 2μm / 200mm* 以X 轴为水平方向上　直线位移: ±(1+0.01L)μm (SV-C3100S4, H4, W4)　精度 (20° C 时) ±(0.8+0.01L)μm (SV-C4100S4, H4, W4)±(1+0.02L)μm (SV-C3100S8, H8, W8)±(0.8+0.02L)μm (SV-C4100S8, H8, W8)* L 为驱动长度(mm)　倾角范围: ±45°Z2 轴 (立柱)　垂直移动: 300mm 或 500mm　分辨率: 1μm　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动Z1 轴 (检测器)　测量范围: ±25mm　分辨率: 0.2μm (SV-C3100),　 0.05μm (SV-C4100)　检测方法: 线性编码器 (SV-C3100),　 激光全息测微计 (SV-C4100)　直线位移: ±(2+I4HI/100)μm (SV-C3100)精度 (20° C 时) ±(0.8+I0.5HI/25)μm (SV-C4100)*H: 基于水平位置的测量高度(mm)　测针上／下运作: 弧形移动　测针方向: 向上／向下　测力: 30mN　跟踪角度: 向上: 77° , 向下: 87°(使用配置的标准测头，依表面粗糙度而定)测针针尖 尖端半径: 25μm、硬质合金尖