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 波长准确度:   θ 10 °~ 60 °、 2 θ 10 °~ 120 ° ((nm))  试剂更换周期:   ±1% ((周))
 量程范围:   220v ((A))  尺寸:   用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。 ((mm))

用途:该X射线晶体分析仪,主要用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。主要参数:电 源:AC220V 50HZ 30A功 率:2KW靶 材:Cu(可选其他靶材)管电压:50KV(分档可调)管电流:50mA(分档可调)稳定度:±1%保 护:过功率、过电压、过电流、无水冷 却:循环水、制冷水箱防 护:铅有机玻璃防护罩相 机:a)德拜相机(粉沫相机)大、小两种b)劳厄相机(平板相机)上述两种相机,用户可自选配置尺 寸:长1000mm×宽780mm×高1050mm(加防护罩1800mm)重 量:320公斤水 泵:长800mm×宽500mm×高700mm
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