对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试反复测量精度更高，最适合生产线校正维修功能，减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件基本参数测量参数C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)测量范围C:0.000fF ～ 15.0000mFD:0.00001 ～ 1.99999Q:0.0 ～ 19999.9基本确度（代表值）C:±0.14% rdg.D:±0.0013※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数测量频率3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz,3506: 1kHz, 1MHz测量信号电平500mV, 1V rms输出电阻1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)测量时间代表值: 2.0 ms （FAST）※ 测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口电源AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA体积及重量260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg附件电源线× 1, 电源备用保险丝× 1