主要参数： ⑴ 测量精度：0.001mm/0.0005" 0.01mm/0.4" ⑵ 测量范围：0-5mm/0.2" 0-10mm/0.4" 0-20mm/0.8" 工业百科简介：测厚仪（thickness gauge ）是用来测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计，目前还处在研制、试验阶段。简介　　  涂层测厚仪mintest700系列测厚仪又有以下系列： 　　纸张测厚仪 　　薄膜测厚仪 　　涂层测厚仪 　　在线测厚仪 　　超声测厚仪 　　压力测厚仪 　　白光干涉测厚仪 　　电解式测厚仪 　　X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。 　　主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工. 　　纸张测厚仪：适用于４mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。 　　薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。 　　涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度. 　　超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。编辑本段X射线测厚仪　　型号：XTC70L 　　适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。 　　1、测量精度、测量厚度的±0.1% 　　2、测量范围：0.01mm—8.0mm (根据测量材料范围有所不同) 　　3、静态精度：±0.1%或者±0.1微米。 　　4. 漂移 ：一小时测量厚度的±0.1%、八小时测量厚度的±0.2%漂 　　5. 重复性： ±0.1% 　　Minitest700系列涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料（如钢铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。编辑本段涂层测厚仪　　型号MINITEST700 　　显示器：4位10㎜液晶 　　测试范围：0-1250um基它测量范围需要另外订购 　　分辨率：0．1um/1um 　　测量精度：±1-3％或±2．5um 　　测量模式：单次测量和连续测量。 　　具有公英制单位转换功能，实现um/㏕转换。 　　带有标准的RS232C窗口。 　　电源：3节7号电池。 　　操作条件：温度0-40℃，湿度﹤80%。 　　尺寸：126×65×27㎜ 　　重量：81㎏（不包括电池） 　　（膜片的实际厚度已标在了膜片上）可选附件：RS232C通讯电缆和软件编辑本段纸张测厚仪性能特点及参数　　该仪器适用于４mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。技术指标：　　1.测量范围:0-3mm 　　2.测量精度:0.001mm 　　3.接触压力:100±10kpa 　　4.接触面积:2±0.05cm2分类：　　涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型： 　　１.磁性测厚法：适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。 　　２.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。 　　３.超声波测厚法：目前辆还没有此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。 　　４.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。 　　５.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在１０万RMB以上），适用于一些特殊场合。 　　国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。 　　涡流测厚仪，是一种小型仪器,采用涡电流测量原理,可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。 采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适