CHY-C2 薄膜测厚仪纳米级（专业技术人员上门安装调试及培训操作） 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 特   征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示最大值、最小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块标定微型打印机RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输技术指标测量范围：0～2mm（常规）          0～6mm；12mm（可选）分辨率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）         注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电   源：AC 220V 50Hz外形尺寸：300 mm(L)×275 mm (B)×300 mm (H)净   重：33kg标   准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817配   置标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码