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  • 上海浮华检测仪器有限公司
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详细信息
 类型:   1250UM(mm)  测量范围:   镀层测厚仪 ((mm))
 重量:   150×80×30(mm) ((g))  外形尺寸:   数字 ((mm))

概 述:  本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。适用范围:  HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。主要功能:可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量;三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm)1μm (测量范围大于100μm)有两种工作方式:直接方式和成组方式有两种测量方式:连续测量和单次测量有两种关机方式:手动关机和自动关机可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图测量范围:(1)F400探头、N400探头:0—400μm(2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm(3)F10探头:0—10000μm(4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)测量精度:不同探头精度要求不同(1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)(2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1)(3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10)使用温度:0~40℃外型尺寸:150×80×30m重 量:250g功能HS2100FHS2100NHS3100HS4100测量原理磁性涡流磁性/涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头(F1/N1):1~1250μm测量精度±(2%H+1)μm(零点校准)±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)存贮和统计15个测量值测量精度±(2%H+1)μm(零点校准)±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)零点校准√√√√二点校准√√√√删除功能√√√√自动关机√√√√蜂鸣声提示√√√√测量方式√√√√欠压指示√√√√错误提示√√√√标准配置主机F1探头基体校准片说明书包装箱主机N1探头基体校准片说明书包装箱主机F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱主机打印机F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱选配件F1、F400、F10测头N1、N400测头通讯软件F1、F400、F10测头N1、N400测头
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