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详细信息
| 类型： |
从K到U（mm）
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测量范围： |
镀层测厚仪
((mm))
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| 测量精度： |
220±5V/50HZ（V）
((%))
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重量： |
648mm×490mm×544mm（mm）
((g))
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| 外形尺寸： |
数显
((mm))
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X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。技术指标：元素分析范围：从K到U一次性可同时分析多层镀层分析厚度检测出限最高达0.01um同时可分析多达5层以上镀层相互独立的基体效应校正模型，最先进厚度分析方法多次测量重复性最高可达0.01um长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）温度适应范围：15℃~30℃输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）配置开放式样品腔二维移动样品平台探测器和X光管上下移动可实现三维移动双激光定位装置准直器自动切换装置玻璃屏蔽罩正比计数盒探测器信号检测电子电路高低压电源X光管计算机及喷墨打印机样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm外型尺寸：648mm×490mm×544mm联系方式联系人：侯先生电话：15019420042】
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