品名：X射线荧光镀层厚度测量仪型号：SFT9200 技术参数 可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗滤波器：一次滤波器：Al 二次滤波器：Co 数字滤波器检测器：比例计数管准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm                 圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、仪器自动诊断功能样品图像对焦方式：激光自动对焦样品观察：彩色CCD摄像头样品平台大小及承重：240mm(W) ×170mm(D) 10kg                                     重量：125kg (不含电脑)        修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书)                       测量能谱与样品图像保存功能 主要特点 1. 能够测量无铅焊锡    配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份2. 搭载中心搜索软件    通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。3. 拥有防冲功能4. 搭载激光对焦系统5. 即时生成测量报告的便捷性    运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件7. 搭载了薄膜FP法软件8. 自动对焦功能     配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。 仪器介绍 [SFT9200系列]继承了拥有20多年历史及光辉业绩的[SFT系列]（操作性与可靠性共存）的有点，并不断发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。