特点：         CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。         精度高、稳定性好         强大的数据统计、处理功能         测量范围宽         NIST认证的标准片         全球服务及支持         应用行业：用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等表面镀层厚度的测量。         技术参数主要规格            规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器，多种规格尺寸准直器任选：圆形，如4、6、8、12、20 mil等矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm  (使用0.025 x 0.05 mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm  (使用0.3mm准直器) 样 品 室样品室结构开槽式样品室最大样品台尺寸 610mm x 610mmXY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm,还有5种规格任选Z轴程控移动高度多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置专用计算机惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机 操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台 分析软件包SmartLink FP软件包 测厚范围    可测定厚度范围：取决于您的具体应用 基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，  材料鉴别和分类检测 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析  调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 测量自动化功能   鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能 样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览 统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图、 数据分组、X-bar/R图表、直方图、数据库存储功能选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器