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详细信息
| 类型： |
100?~ 35?(Depends on Film Type)（mm）
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测量范围： |
激光测厚仪
((mm))
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ST5030-SL·标准模型·工业规格·自动的X-Y平台·自动调焦·半导体和裂变产物探测 尺寸 500 x 750 x 650 mm 重量 80Kg 类型 自动 测量型号 ≤ 4" 测量方法 无连接的 测量原理 反射计 特征 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 优秀的重复性和再现性 2D/3D映射和造型 自动机械活动控制 电荷耦合器件照相机 自动调焦 活动范围 300mm x 300mm 测量范围 100?~ 35?(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40?/20?,4?(option) 测量速度 1~2 sec./site (fitting time) 应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Large Size Wafer Measure 选择 Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST) Anti-vibration table 接物镜转换器 Quintuple Revolving Nosepiecs 焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明 12v 100W Halogen Lamp
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